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自記式光量子計測定不同輻射蘋果葉片的凈光合速率
來源: http://www.gge6.com/ 類別:技術(shù)文章 更新時間:2014-08-05 閱讀次
影響植物生長發(fā)育重要因素之一就是光合作用,對于果園而言,光合作用更是直接決定了其產(chǎn)量和品質(zhì),這是因為光照決定了果樹冠層內(nèi)的葉片光合作用分布。果樹冠層具有非常復(fù)雜的異質(zhì)性,在樹冠不同部位葉片的光合能力存在較大差異,這種差異主要是由葉片接受的輻射不同引起。果樹葉片在其發(fā)育過程中所接受輻射不同,其光合器官也會隨之改變,并改變?nèi)~片光合能力。由于樹冠不同部位葉片光合能力和所吸收的輻射成一定比例,可通過構(gòu)建葉片P。和光合有效輻射(PAR)之間的數(shù)學(xué)模型來模擬。對于光合有效輻射的測定記錄可以采用自記式光量子計進(jìn)行。
利用自記式光量子計分析,不同RPAR下葉片光響應(yīng)曲線存在很大差異(本文PAR為樹冠頂部PAR值),弱光條件下生長的葉片整體光合值較小也沒有明顯的光飽和點(diǎn),主要是因為這些葉片處在樹冠內(nèi)膛或下層,受遮蔭影響難以達(dá)到光飽和點(diǎn)。當(dāng)葉片RPAR大于40%后,葉片光合作用的光飽和點(diǎn)隨輻射條件改善而不斷減小。不同RPAR下葉片光合作用的COZ濃度響應(yīng)曲線也存在很大差異,弱光條件下生長葉片在COZ濃度很低時Pn就達(dá)到了飽和,而隨著輻射條件的改善,葉片光合作用的COZ飽和點(diǎn)也隨之升高,這主要是因為輻射改善后葉片變厚、葉綠素增多,所以其對COz同化能力也隨之增強(qiáng)。
不同輻射條件下葉片溫度響應(yīng)都呈“凸”字形曲線,但葉片尸。的最適溫度卻隨輻射條件的改善而升高,多數(shù)葉片為20-300C。樹冠上層和外圍葉片得到的輻射強(qiáng),經(jīng)常受到更多高溫脅迫,葉片的這種差異有利于提高樹冠整體光合能力,實現(xiàn)對光能的充分利用。不同RPAR條件下葉片Pn對RH的響應(yīng)相似,并且隨RH升高而略有升高。不同RPAR條件下葉片對鞏響應(yīng)也相似,并且隨鞏升高而有所升高,但當(dāng)鞏低于-1.SMPa時變化更為顯著。按照葉片在樹冠內(nèi)所處高度可分為3類,下層葉(Q.5m),中層葉(1.5-2.5m}和上層葉(>2.5m)。
通過自記式光量子計對果園樹冠以及光合有效輻射的測定記錄,對于果園的管理修剪有著十分重要的指導(dǎo)意義。果樹一般成行種植,有特定樹形結(jié)構(gòu),冠層內(nèi)葉片具有很大的異質(zhì)性,不同部位葉片所接受輻射和光合能力差異很大。單純研究葉片光合特性Czi7,或利用分層模型研究樹冠光合特性都難以反映出樹冠整體的光合規(guī)律,特別是樹冠不同部位葉片光合差異圈。而這種差異對于研究果樹樹形特點(diǎn)、合理負(fù)載和精準(zhǔn)修剪等都有非常重要的意義。
利用自記式光量子計分析,不同RPAR下葉片光響應(yīng)曲線存在很大差異(本文PAR為樹冠頂部PAR值),弱光條件下生長的葉片整體光合值較小也沒有明顯的光飽和點(diǎn),主要是因為這些葉片處在樹冠內(nèi)膛或下層,受遮蔭影響難以達(dá)到光飽和點(diǎn)。當(dāng)葉片RPAR大于40%后,葉片光合作用的光飽和點(diǎn)隨輻射條件改善而不斷減小。不同RPAR下葉片光合作用的COZ濃度響應(yīng)曲線也存在很大差異,弱光條件下生長葉片在COZ濃度很低時Pn就達(dá)到了飽和,而隨著輻射條件的改善,葉片光合作用的COZ飽和點(diǎn)也隨之升高,這主要是因為輻射改善后葉片變厚、葉綠素增多,所以其對COz同化能力也隨之增強(qiáng)。
不同輻射條件下葉片溫度響應(yīng)都呈“凸”字形曲線,但葉片尸。的最適溫度卻隨輻射條件的改善而升高,多數(shù)葉片為20-300C。樹冠上層和外圍葉片得到的輻射強(qiáng),經(jīng)常受到更多高溫脅迫,葉片的這種差異有利于提高樹冠整體光合能力,實現(xiàn)對光能的充分利用。不同RPAR條件下葉片Pn對RH的響應(yīng)相似,并且隨RH升高而略有升高。不同RPAR條件下葉片對鞏響應(yīng)也相似,并且隨鞏升高而有所升高,但當(dāng)鞏低于-1.SMPa時變化更為顯著。按照葉片在樹冠內(nèi)所處高度可分為3類,下層葉(Q.5m),中層葉(1.5-2.5m}和上層葉(>2.5m)。
通過自記式光量子計對果園樹冠以及光合有效輻射的測定記錄,對于果園的管理修剪有著十分重要的指導(dǎo)意義。果樹一般成行種植,有特定樹形結(jié)構(gòu),冠層內(nèi)葉片具有很大的異質(zhì)性,不同部位葉片所接受輻射和光合能力差異很大。單純研究葉片光合特性Czi7,或利用分層模型研究樹冠光合特性都難以反映出樹冠整體的光合規(guī)律,特別是樹冠不同部位葉片光合差異圈。而這種差異對于研究果樹樹形特點(diǎn)、合理負(fù)載和精準(zhǔn)修剪等都有非常重要的意義。
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