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葉面積測(cè)量?jī)x研究玉米穗三葉與QTL定位

來(lái)源： http://www.gge6.com 　類(lèi)別：技術(shù)文章　更新時(shí)間：2014-12-02　閱讀次

      高產(chǎn)是玉米育種永恒追求的目標(biāo)，這也說(shuō)明對(duì)于其產(chǎn)量的影響是有多重因素構(gòu)成的。果穗產(chǎn)量性狀是其直接表現(xiàn)。葉片是玉米光合作用的主要器官，葉面積是決定光合產(chǎn)物的一個(gè)重要指標(biāo)，對(duì)于產(chǎn)量形成具有重要的作用。通過(guò)葉面積測(cè)量?jī)x研究表明，玉米穗三葉面積與玉米單株產(chǎn)量呈顯著的正相關(guān)，其中穗位葉面積與產(chǎn)量關(guān)系最為密切。
　　
      葉面積測(cè)量?jī)x研究玉米穗三葉面積，尤其是穗位葉面積的遺傳機(jī)制，對(duì)高效選育高產(chǎn)、優(yōu)質(zhì)、抗病、廣適玉米新雜交種具有重要意義。在農(nóng)作物葉面積QTL定位方面，水稻上研究比較多，尤其是對(duì)水稻劍葉形狀和大小進(jìn)行了大量的QTL定位工作。而葉面積儀在玉米葉面積QTL的研究中，穗位葉面積相關(guān)的報(bào)道比較少。
　　
      對(duì)F2單株材料穗位葉面積進(jìn)行正態(tài)分布檢驗(yàn)，葉面積測(cè)量?jī)x統(tǒng)計(jì)量可知：從變幅和變異系數(shù)看，群體穗位葉面積性狀的變異較大；從偏度和峰值看，葉面積未顯著偏離正態(tài)分布，符合QTL定位的基本要求，可以進(jìn)行QTL檢測(cè)。
　　
      農(nóng)作物的株高、葉面積測(cè)量?jī)x的測(cè)定以及產(chǎn)量等農(nóng)藝性狀屬于數(shù)量性狀，自20世紀(jì)80年代以來(lái)，分子標(biāo)記技術(shù)以及QTL定位方法的快速發(fā)展為復(fù)雜數(shù)量性狀的研究提供了強(qiáng)有力的手段。隨著分子遺傳學(xué)的迅猛發(fā)展，國(guó)內(nèi)外已經(jīng)構(gòu)建了不少主要農(nóng)作物（水稻、玉米、小麥）的分子標(biāo)記連鎖圖譜，并結(jié)合葉面積測(cè)量?jī)x的儀器應(yīng)用為農(nóng)藝性狀的QTL定位和遺傳分析打下了基礎(chǔ)。　　

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